দ্যXHZ1340Aট্রান্সফরমার ডিসি রেসিস্ট্যান্স টেস্টার একটি পরবর্তী প্রজন্মের দ্রুত পরীক্ষার ডিভাইস যা চৌম্বকীয় পরীক্ষা, তিন-ফেজ পরীক্ষা এবং ডিগ্যাসিং ফাংশনকে একীভূত করে।এই যন্ত্রটি বিশেষভাবে ব্যতিক্রমী নির্ভুলতার সাথে বড় পাওয়ার ট্রান্সফরমারগুলির ডিসি প্রতিরোধের পরিমাপের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে.
পরীক্ষার বর্তমান |
তিন ধাপের পরীক্ষাঃ20A+20A, 10A+10A, 5A+5A, 1A+1A ধাপ বিচ্ছেদ পরীক্ষাঃ40A, 20A, 10A, 5A, 1A, 0.2A |
---|---|
পরীক্ষার পরিসীমা | 40A: 100.0μΩ ~ 0.5Ω 20A: 500.0μΩ ~ 1Ω 10A: 1mΩ ~ 2Ω 5A: 10mΩ ~ 4Ω 1A: 100mΩ ~ 20Ω 0.2A: 1Ω ~ 100Ω 20A+20A: 200μΩ~0.3Ω 10A+10A: 500μΩ~0.6Ω 5A+5A: 10mΩ ~ 1.5Ω 1A+1A: 100mΩ ~7Ω |
রেজোলিউশন | 0.1μΩ |
সঠিকতা | ± ((পাঠ্য × 0.2% + 2 শব্দ) |
মাত্রা | 430mm × 320mm × 230mm |
ওজন | ১২ কেজি |
অপারেটিং শর্তাবলী | তাপমাত্রাঃ -10°C ~ 50°C আর্দ্রতাঃ ≤ 85% আরএইচ |
বিদ্যুতের চাহিদা | AC220V ± 10% পাওয়ার ফ্রিকোয়েন্সিঃ (50±1) Hz |