বড় পাওয়ার ট্রান্সফরমারের জন্য ট্রান্সফরমার ডিসি প্রতিরোধ পরীক্ষক

Name: বড় পাওয়ার ট্রান্সফরমারের জন্য ট্রান্সফরমার ডিসি প্রতিরোধ পরীক্ষক
Brand: Xi'an Xu&Hui Electromechanical Technology Co., Ltd.
SKU: XHZ1340A
Price: 4,115.00 USD
Availability: InStock

পণ্যের বিবরণ:

উৎপত্তি স্থল:	চীন
পরিচিতিমুলক নাম:	XZH TEST
সাক্ষ্যদান:	CE/ISO
মডেল নম্বার:	XHZ1340A

বিস্তারিত তথ্য

উৎপত্তি স্থল:

চীন

পরিচিতিমুলক নাম:

XZH TEST

সাক্ষ্যদান:

CE/ISO

মডেল নম্বার:

XHZ1340A

বিশেষভাবে তুলে ধরা:

High Light

বিশেষভাবে তুলে ধরা:

40A হাই-কন্ট্রাক্ট ফেজ-বিচ্ছেদ পরীক্ষা

একযোগে উচ্চ-নিম্ন ভোল্টেজ সংযোগ

থ্রি-ফেজ ম্যাগনেটিক অ্যাসিস্ট ডিগ্যাসিং

Trading Information

ন্যূনতম চাহিদার পরিমাণ:

1 ইউনিট

মূল্য:

আলোচনাযোগ্য

প্যাকেজিং বিবরণ:

কাঠের প্যাকেজিং

ডেলিভারি সময়:

5-8 কাজের দিন

পরিশোধের শর্ত:

টি/টি

যোগানের ক্ষমতা:

2000 ইউনিট/বছর

পণ্যের বর্ণনা

🎯 লক্ষ্য অ্যাপ্লিকেশন: ৩৫.৩ কেভি–৭৫০ কেভি শ্রেণীর সরঞ্জাম নিয়ে কাজ করা অতি-উচ্চ ভোল্টেজ (UHV) সাবস্টেশন কমিশন দল এবং বৃহৎ পাওয়ার ট্রান্সফরমার টেস্টিং ল্যাবরেটরিগুলির জন্য প্রকৌশলগতভাবে তৈরি। স্ট্যান্ডার্ড ২০ অ্যাম্পিয়ার ফিল্ড টেস্টার থেকে ভিন্ন, XHZ1340A ৪০ অ্যাম্পিয়ার হাই-কারেন্ট সিঙ্গেল-ফেজ এবং ২০ অ্যাম্পিয়ার + ২০ অ্যাম্পিয়ার থ্রি-ফেজ যুগপৎ আউটপুট সরবরাহ করে — যা উচ্চ-এমভিএ পাওয়ার ট্রান্সফরমার, জেনারেটর স্টেপ-আপ (GSU) ইউনিট এবং ইন্টারকানেকশন ট্রান্সফরমারগুলিতে পাওয়া অতি-নিম্ন রেজিস্ট্যান্স উইন্ডিংগুলির জন্য বিশেষভাবে ডিজাইন করা হয়েছে, যেখানে মাইক্রো-ওহম স্তরে পরিমাপের নির্ভুলতা গ্রহণ পরীক্ষা এবং ফল্ট-পরবর্তী ফরেনসিক বিশ্লেষণের জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ।

XHZ1340A ৪০ অ্যাম্পিয়ার ট্রান্সফরমার ডিসি রেজিস্ট্যান্স টেস্টার

XHZ1340A একটি নতুন প্রজন্মের দ্রুত টেস্টিং যন্ত্র যা ম্যাগনেটিক অ্যাসিস্ট টেস্টিং, থ্রি-ফেজ যুগপৎ পরিমাপ এবং বিল্ট-ইন ডিগাউসিংকে একটি একক উচ্চ-কার্যকারিতা প্ল্যাটফর্মে একীভূত করে। বৃহৎ পাওয়ার ট্রান্সফরমারগুলির ডিসি রেজিস্ট্যান্স পরিমাপের জন্য বিশেষভাবে ডিজাইন করা হয়েছে — যার মধ্যে জেনারেটর স্টেপ-আপ ইউনিট, UHV ইন্টারকানেকশন ট্রান্সফরমার এবং উচ্চ-এমভিএ ডিস্ট্রিবিউশন ট্রান্সফরমারগুলি অন্তর্ভুক্ত — এটি ৪০ অ্যাম্পিয়ার পর্যন্ত টেস্ট কারেন্টে ০.১ মাইক্রো-ওহম রেজোলিউশন সহ ব্যতিক্রমী নির্ভুলতা সরবরাহ করে।মূল বৈশিষ্ট্যযুগপৎ উচ্চ-নিম্ন ভোল্টেজ সংযোগ:

XHZ1340A

পরীক্ষার সময় রিভার্স বা পুনরায় সংযোগ করার প্রয়োজন ছাড়াই একযোগে উচ্চ-ভোল্টেজ এবং নিম্ন-ভোল্টেজ কারেন্ট/পটেনশিয়াল টেস্ট লিডগুলি সংযোগ করুন — একটি অনন্য ডিজাইন যা মাল্টি-উইন্ডিং বৃহৎ পাওয়ার ট্রান্সফরমারগুলির জন্য সেটআপ সময়কে উল্লেখযোগ্যভাবে হ্রাস করে।

থ্রি-ফেজ যুগপৎ টেস্টিং: স্টার-কানেক্টেড উইন্ডিংগুলির জন্য A0, B0, এবং C0 ফেজগুলি যুগপৎ পরিমাপ করে, যা বৃহৎ ট্রান্সফরমারগুলিতে সিকোয়েন্সিয়াল সিঙ্গেল-ফেজ পদ্ধতির তুলনায় মোট টেস্টিং সময় ৭০% এর বেশি হ্রাস করে।
স্বয়ংক্রিয় ম্যাগনেটিক অ্যাসিস্ট: কোরকে প্রি-স্যাচুরেট করে থ্রি-ফেজ ফাইভ-কলাম লো-ভোল্টেজ ইন্টারনাল কর্নার-কানেক্টেড ট্রান্সফরমারগুলির জন্য টেস্টিং গতি ত্বরান্বিত করে, যা বিশেষত বৃহৎ এমভিএ-রেটেড ইউনিটগুলিতে পাওয়া উচ্চ-ইনডাকট্যান্স উইন্ডিংগুলির জন্য কার্যকর।
নিউট্রাল পয়েন্ট পরিমাপ উদ্ভাবন: একটি মালিকানাধীন টেস্টিং সিকোয়েন্স যা থ্রি-ফেজ ট্রান্সফরমার ডায়াগনস্টিক্সে দীর্ঘস্থায়ী অসুবিধা — নিউট্রাল পয়েন্ট লিড ওয়্যার রেজিস্ট্যান্স পরিমাপের চ্যালেঞ্জকে সঠিকভাবে সমাধান করে।
ব্যাপক ডেটা আউটপুট: একটি একক রিপোর্টে উচ্চ, মাঝারি এবং নিম্ন ভোল্টেজ উইন্ডিংগুলির জন্য সমস্ত পরীক্ষার ফলাফল প্রদর্শন এবং প্রিন্ট করে। স্বয়ংক্রিয় থ্রি-ফেজ আনব্যালেন্স গণনা, রেটেড রেফারেন্স মানগুলিতে ঐচ্ছিক তাপমাত্রা রূপান্তর সহ।
উন্নত ব্যাক-ইএমএফ সুরক্ষা: ইন্ডাকটিভ লোড ডিসচার্জের সময় যন্ত্র এবং অপারেটর উভয়কেই রক্ষা করে, যা বৃহত্তম ট্রান্সফরমার উইন্ডিংগুলিতে নিরাপদ হাই-কারেন্ট টেস্টিং সক্ষম করে।
বিস্তৃত ডেটা স্টোরেজ: ২০০টি টেস্ট ডেটাসেট স্থায়ীভাবে সংরক্ষিত (সম্প্রসারণযোগ্য), ল্যাবরেটরি ইনফরমেশন ম্যানেজমেন্ট সিস্টেম এবং দীর্ঘমেয়াদী ট্রেন্ড বিশ্লেষণের সাথে একীকরণের জন্য ইউএসবি এক্সপোর্ট ক্ষমতা সহ।
ফিল্ড-রাগড কনস্ট্রাকশন: প্রশস্ত তাপমাত্রা সহনশীলতা (-১০°C~৫০°C), শক প্রতিরোধ ক্ষমতা, অ্যান্টি-ইন্টারফারেন্স শিল্ডিং এবং পোর্টেবল ফর্ম ফ্যাক্টর (৪৩০×৩২০×২৩০মিমি) ল্যাবরেটরি এবং সাবস্টেশন ফিল্ড উভয় স্থাপনার জন্য ডিজাইন করা হয়েছে।
প্রযুক্তিগত স্পেসিফিকেশনটেস্ট কারেন্ট

থ্রি-ফেজ: ২০ অ্যাম্পিয়ার + ২০ অ্যাম্পিয়ার, ১০ অ্যাম্পিয়ার + ১০ অ্যাম্পিয়ার, ৫ অ্যাম্পিয়ার + ৫ অ্যাম্পিয়ার, ১ অ্যাম্পিয়ার + ১ অ্যাম্পিয়ার

সিঙ্গেল-ফেজ: ৪০ অ্যাম্পিয়ার, ২০ অ্যাম্পিয়ার, ১০ অ্যাম্পিয়ার, ৫ অ্যাম্পিয়ার, ১ অ্যাম্পিয়ার, ০.২ অ্যাম্পিয়ার	পরিমাপের পরিসীমা ৪০ অ্যাম্পিয়ার: ১০০ মাইক্রো-ওহম ~ ০.৫ ওহম \| ২০ অ্যাম্পিয়ার: ৫০০ মাইক্রো-ওহম ~ ১ ওহম \| ১০ অ্যাম্পিয়ার: ১ মিলি-ওহম ~ ২ ওহম
৫ অ্যাম্পিয়ার: ১০ মিলি-ওহম ~ ৪ ওহম \| ১ অ্যাম্পিয়ার: ১০০ মিলি-ওহম ~ ২০ ওহম \| ০.২ অ্যাম্পিয়ার: ১ ওহম ~ ১০০ ওহম	২০ অ্যাম্পিয়ার + ২০ অ্যাম্পিয়ার: ২০০ মাইক্রো-ওহম ~ ০.৩ ওহম \| ১০ অ্যাম্পিয়ার + ১০ অ্যাম্পিয়ার: ৫০০ মাইক্রো-ওহম ~ ০.৬ ওহম ৫ অ্যাম্পিয়ার + ৫ অ্যাম্পিয়ার: ১০ মিলি-ওহম ~ ১.৫ ওহম \| ১ অ্যাম্পিয়ার + ১ অ্যাম্পিয়ার: ১০০ মিলি-ওহম ~ ৭ ওহম রেজোলিউশন ০.১ মাইক্রো-ওহম
নির্ভুলতা	±(রিডিং × ০.২% + ২ শব্দ)
পাওয়ার সাপ্লাই	AC220V ±১০%, ৫০±১Hz
মাত্রা	৪৩০০ × ৩২০০ × ২৩০ মিমি
অপারেটিং তাপমাত্রা	-১০°C ~ ৫০°C
অপারেটিং আর্দ্রতা	≤ ৮৫% RH
ডেটা স্টোরেজ	২০০ টেস্ট ডেটাসেট (USB এর মাধ্যমে সম্প্রসারণযোগ্য)
প্রায়শই জিজ্ঞাসিত প্রশ্নাবলী	প্রশ্ন ১: একটি স্ট্যান্ডার্ড ২০ অ্যাম্পিয়ার ডিসি রেজিস্ট্যান্স টেস্টার এর পরিবর্তে কখন আমার ৪০ অ্যাম্পিয়ার মডেলটি বেছে নেওয়া উচিত?

XHZ1340A এর ৪০ অ্যাম্পিয়ার সিঙ্গেল-ফেজ এবং ২০ অ্যাম্পিয়ার + ২০ অ্যাম্পিয়ার থ্রি-ফেজ আউটপুট বিশেষভাবে বৃহৎ পাওয়ার ট্রান্সফরমারগুলির জন্য ডিজাইন করা হয়েছে যেখানে উইন্ডিং রেজিস্ট্যান্স অত্যন্ত কম — সাধারণত উচ্চ-এমভিএ ইউনিটগুলির জন্য ৫০০ মাইক্রো-ওহমের নিচে। উচ্চতর টেস্ট কারেন্ট মাইক্রো-ওহম পরিমাপ স্তরে সিগন্যাল-টু-নয়েজ অনুপাত উন্নত করে, যা ৩৫.৩ কেভি–৭৫০ কেভি শ্রেণীর ট্রান্সফরমার, GSU ট্রান্সফরমার এবং ইন্টারকানেকশন ইউনিটগুলির গ্রহণ পরীক্ষার জন্য প্রয়োজনীয় ০.১ মাইক্রো-ওহম রেজোলিউশন এবং ±(০.২%+২ শব্দ) নির্ভুলতা সরবরাহ করে। ১ মিলি-ওহমের উপরে উইন্ডিং রেজিস্ট্যান্স সহ ডিস্ট্রিবিউশন-ক্লাস ট্রান্সফরমারগুলির জন্য, ২০ অ্যাম্পিয়ার মডেলগুলি পর্যাপ্ত নির্ভুলতা সরবরাহ করে।

প্রশ্ন ২: যুগপৎ উচ্চ-নিম্ন ভোল্টেজ সংযোগ বৈশিষ্ট্যটি টেস্টিং ওয়ার্কফ্লোকে কীভাবে উন্নত করে?

প্রচলিত ডিসি রেজিস্ট্যান্স টেস্টারগুলির জন্য সিকোয়েন্সিয়াল সংযোগের প্রয়োজন হয় — উচ্চ-ভোল্টেজ উইন্ডিংগুলি পরীক্ষা করুন, সংযোগ বিচ্ছিন্ন করুন, তারপর নিম্ন-ভোল্টেজ সাইডে পুনরায় সংযোগ করুন। XHZ1340A পরীক্ষার শুরুতে সমস্ত উচ্চ-ভোল্টেজ (A, B, C, O) এবং নিম্ন-ভোল্টেজ (a, b, c, o) টেস্ট লিডগুলি যুগপৎ সংযোগ করার অনুমতি দেয়। যন্ত্রের বুদ্ধিমান সুইচিং ম্যাট্রিক্স স্বয়ংক্রিয়ভাবে প্রতিটি উইন্ডিংয়ে টেস্ট কারেন্টকে ক্রমানুসারে রুট করে, অপারেটরের ট্রান্সফরমার আরোহণ করে সংযোগ পরিবর্তন করার প্রয়োজন ছাড়াই। এটি বৃহৎ পাওয়ার ট্রান্সফরমারগুলির জন্য বিশেষভাবে মূল্যবান যেখানে বুশিং অ্যাক্সেসের জন্য উচ্চতর কাজের প্ল্যাটফর্মের প্রয়োজন হতে পারে এবং প্রতিটি পুনরায় সংযোগ চক্র উল্লেখযোগ্য সময় এবং সুরক্ষা ঝুঁকি যোগ করে।

প্রশ্ন ৩: যন্ত্রটি কীভাবে নিউট্রাল পয়েন্ট লিড ওয়্যার রেজিস্ট্যান্স পরিমাপের সমস্যা সমাধান করে?

থ্রি-ফেজ ট্রান্সফরমার টেস্টিংয়ে, নিউট্রাল পয়েন্ট লিড ওয়্যারের রেজিস্ট্যান্স একটি পরিমাপ ত্রুটি তৈরি করে যা বিচ্ছিন্ন করা কঠিন। XHZ1340A একটি উদ্ভাবনী টেস্টিং সিকোয়েন্স ব্যবহার করে যা একাধিক কারেন্ট পাথের উপর ডিফারেনশিয়াল পরিমাপ গ্রহণ করে নিউট্রাল লিড রেজিস্ট্যান্সকে গাণিতিকভাবে ক্ষতিপূরণ দেয়, কার্যকরভাবে লিড ওয়্যারের অবদান বাতিল করে। এই মালিকানাধীন পদ্ধতিটি পৃথক নিউট্রাল লিড ক্যালিব্রেশনের প্রয়োজন ছাড়াই একটি প্রকৃত উইন্ডিং রেজিস্ট্যান্স মান সরবরাহ করে — যা প্রচলিত থ্রি-ফেজ টেস্টারগুলির তুলনায় একটি উল্লেখযোগ্য অগ্রগতি যা সাধারণত নিউট্রাল লিড রেজিস্ট্যান্স উল্লেখযোগ্য হলে রেজিস্ট্যান্সকে বেশি অনুমান করে।

প্রশ্ন ৪: পরীক্ষার ফলাফল কি স্বয়ংক্রিয়ভাবে রেফারেন্স তাপমাত্রা মানে রূপান্তরিত হতে পারে?

হ্যাঁ। XHZ1340A একটি বিল্ট-ইন তাপমাত্রা রূপান্তর ফাংশন অন্তর্ভুক্ত করে যা পরিমাপ করা উইন্ডিং তাপমাত্রা এবং পরিবাহী উপাদানের (তামা বা অ্যালুমিনিয়াম) উপর ভিত্তি করে একটি নির্দিষ্ট রেফারেন্স তাপমাত্রায় (সাধারণত পাওয়ার ট্রান্সফরমারগুলির জন্য ৭৫°C) রেজিস্ট্যান্স মানগুলি স্বয়ংক্রিয়ভাবে গণনা করে। ফলাফলগুলি পরিমাপ করা এবং তাপমাত্রা-ক্ষতিপূরণযুক্ত উভয় মান পাশাপাশি প্রদর্শন এবং প্রিন্ট করা যেতে পারে। থ্রি-ফেজ আনব্যালেন্স রেটও স্বয়ংক্রিয়ভাবে গণনা করা হয়, এবং কাঁচা এবং রূপান্তরিত উভয় মান IEC এবং IEEE গ্রহণ পরীক্ষার মানগুলির সাথে সম্মতি নিশ্চিত করার জন্য প্রিন্টেড টেস্ট রিপোর্টে অন্তর্ভুক্ত করা যেতে পারে।

প্রশ্ন ৫: ডিসি রেজিস্ট্যান্স টেস্টিংয়ের পরে যন্ত্রটি কী ডিগাউসিং ক্ষমতা সরবরাহ করে?

XHZ1340A স্বয়ংক্রিয় ডিগাউসিংকে সরাসরি টেস্ট ওয়ার্কফ্লোতে একীভূত করে। সমস্ত উইন্ডিংগুলিতে ডিসি রেজিস্ট্যান্স পরিমাপ সম্পন্ন করার পরে, বিল্ট-ইন ডিম্যাগনেটাইজেশন ফাংশন ট্রান্সফরমারটি পরিষেবাতে ফিরিয়ে আনার আগে নিয়ন্ত্রিত কারেন্ট অ্যাটেন্যুয়েশন ব্যবহার করে অবশিষ্ট কোর ম্যাগনেটিজমকে পদ্ধতিগতভাবে সরিয়ে দেয়। এটি একটি পৃথক ডিগাউসিং যন্ত্রের প্রয়োজনীয়তা দূর করে এবং অবশিষ্ট ম্যাগনেটিজমের সাথে সম্পর্কিত ইনরাশ কারেন্ট, সুরক্ষা রিলে ত্রুটি এবং সহানুভূতিশীল ট্রিপিং ঝুঁকি প্রতিরোধ করে। ডিগাউসিং চক্রটি একটি পোস্ট-টেস্ট সিকোয়েন্স হিসাবে স্বয়ংক্রিয়ভাবে চলে, এবং যন্ত্রটি সম্পূর্ণ ডিম্যাগনেটাইজেশন অর্জিত না হওয়া পর্যন্ত রিয়েল-টাইম অগ্রগতি সূচক সরবরাহ করে।

ট্যাগ: